Kenneth P. Rodbell,
William F. Filter,
Harold J. Frost
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Paperback Engels 2014 9781107409484Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Specificaties
ISBN13:9781107409484
Taal:Engels
Bindwijze:Paperback
Aantal pagina's:514
Uitgever:Cambridge University Press
Serie:MRS Proceedings
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan